用于校準(zhǔn)超聲測(cè)焊點(diǎn)設(shè)備的裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111350560.6 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN114061498A | 公開(kāi)（公告）日 | 2022-02-18 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114061498A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-02-18 |
| 分類號(hào) | G01B17/00（2006.01）I;G01B17/02（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 趙瑩;伍水生;袁仍 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 廣電計(jì)量檢測(cè)（武漢）有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | 潘宏洲 |
| 地址 | 510665廣東省廣州市天河區(qū)黃埔大道西平云路163號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請(qǐng)涉及一種用于校準(zhǔn)超聲波測(cè)焊點(diǎn)設(shè)備的裝置、超聲測(cè)焊點(diǎn)設(shè)備的校準(zhǔn)方法、計(jì)算機(jī)設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。所述裝置包括至少一個(gè)試塊，每一所述試塊包括：第一柱塊，和設(shè)置在第一柱塊沿第二方向的一端的第二柱塊，所述第二柱塊覆蓋所述第一柱塊的所述一端，且所述第一柱塊沿第一方向的橫截面積小于所述第二柱塊沿所述第一方向的橫截面積，所述第一方向和所述第二方向相垂直；所述第一柱塊與所述第二柱塊在所述第一方向的覆蓋尺寸，以及所述第一柱塊與所述第二柱塊在所述第二方向的厚度和，用以校準(zhǔn)超聲測(cè)焊點(diǎn)設(shè)備。采用本方法能夠?qū)Τ暅y(cè)焊點(diǎn)設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)。 |
