一種基于半監(jiān)督學習的瑕疵檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110984972.9 申請日 -
公開（公告）號 CN113808035A 公開（公告）日 2021-12-17
申請公布號 CN113808035A 申請公布日 2021-12-17
分類號 G06T5/00;G06T5/50;G06T7/00 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 賴永炫;曹輝彬;陳宇 申請（專利權(quán)）人 廈門微圖軟件科技有限公司
代理機構(gòu) 廈門市天富勤知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 唐紹烈
地址 361000 福建省廈門市火炬高新區(qū)信息光電園金豐大廈804B室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種基于半監(jiān)督學習的瑕疵檢測方法，包括無監(jiān)督學習、有監(jiān)督學習和瑕疵檢測，無監(jiān)督學習階段將無瑕疵圖像生成虛假帶瑕疵圖像再修復(fù)回無瑕疵圖像，將帶瑕疵圖像修復(fù)為虛假無瑕疵圖像再轉(zhuǎn)換回帶瑕疵圖像，然后判斷真實性，計算對抗損失并優(yōu)化更新辨別器參數(shù)；有監(jiān)督學習階段加入高斯噪聲并通過瑕疵修復(fù)器將虛假帶瑕疵圖像轉(zhuǎn)換為無瑕疵圖像，通過新的辨別器輸入兩張圖像組成的數(shù)據(jù)對，然后判斷真實性，計算對抗損失并優(yōu)化更新辨別器；瑕疵檢測給定隨機帶瑕疵圖像，將帶瑕疵圖像轉(zhuǎn)換為虛假無瑕疵圖像，逐像素比對以獲得標記瑕疵位置與形狀的二值圖像。本發(fā)明降低瑕疵圖像合成復(fù)雜性和檢測未見過瑕疵復(fù)雜性，對未見過的瑕疵有很好的適應(yīng)性。