一種激光二極管芯片光電屬性檢測(cè)裝置
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201821700128.9 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN209055636U | 公開(公告)日 | 2019-07-02 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN209055636U | 申請(qǐng)公布日 | 2019-07-02 |
分類號(hào) | G01R31/28(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 朱干軍; 張家堯 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 義烏臻格科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 合肥市上嘉專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 葉洋軍;郭華俊 |
地址 | 322009 浙江省金華市義烏市蘇溪鎮(zhèn)蘇福路219號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型公開了一種激光二極管芯片光電屬性檢測(cè)裝置,包括一維升降機(jī)構(gòu)、夾具、和條帶探針,其中,所述夾具固連至一維升降機(jī)構(gòu),用于夾持弧形的條帶探針,其中,所述條帶探針自身呈弧形或彎曲成弧形,以與激光二極管脊頂面電極的延伸方向正交的方式,水平下降至與脊頂面電極的金電極圖層接觸的位置,由條帶探針的彎曲形變提供接觸壓力。本實(shí)用新型以條帶型的探針去替代傳統(tǒng)的探針,去提供激光二極管光電屬性檢測(cè)過程所需要的電流(電壓),由于下針方式和接觸面積的改變,對(duì)檢測(cè)設(shè)備的位置精準(zhǔn)度降低了要求,保護(hù)了激光二極管上的電極墊,延長(zhǎng)了探針的使用壽命。從設(shè)備、耗材、以及制程工藝上降低了成本。 |
