可控硅結(jié)構(gòu)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110673779.3 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN113410296A | 公開(公告)日 | 2021-09-17 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113410296A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-09-17 |
分類號(hào) | H01L29/74(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 楊志偉;邵長(zhǎng)海;左建偉;孫傳幫 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 吉林華微電子股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 成都極刻智慧知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 宋江 |
地址 | 132000吉林省吉林市高新區(qū)深圳街99號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請(qǐng)?zhí)峁┑目煽毓杞Y(jié)構(gòu),涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域。在本申請(qǐng)中,可控硅結(jié)構(gòu)包括電極結(jié)構(gòu)和半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),電極結(jié)構(gòu)與半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)電連接。半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)包括至少一層N型半導(dǎo)體材料層和至少一層P型半導(dǎo)體材料層。其中,至少一層N型半導(dǎo)體材料層和至少一層P型半導(dǎo)體材料層中的至少一層為目標(biāo)半導(dǎo)體層,目標(biāo)半導(dǎo)體層包括依次分布的摻雜濃度不同和/或摻雜元素不同的多個(gè)子區(qū)域?;谏鲜鼋Y(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),可以改善現(xiàn)有的可控硅結(jié)構(gòu)中存在的動(dòng)態(tài)特性不佳的問題。 |
