基于探測(cè)器溫度漂移模型的無(wú)擋片紅外測(cè)溫方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010780258.3 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN112050948A 公開(kāi)(公告)日 2020-12-08
申請(qǐng)公布號(hào) CN112050948A 申請(qǐng)公布日 2020-12-08
分類(lèi)號(hào) G01J5/10(2006.01)I 分類(lèi) 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 張程碩;陳果;徐保樹(shù);劉召軍;陳旭東;史志躍 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 沈陽(yáng)上博智像科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 沈陽(yáng)友和欣知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 沈陽(yáng)上博智像科技有限公司
地址 110000遼寧省沈陽(yáng)市渾南區(qū)世紀(jì)路24號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于紅外成像測(cè)溫技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種基于探測(cè)器溫度漂移模型的無(wú)擋片紅外測(cè)溫方法。采用近距離擴(kuò)展源法進(jìn)行定標(biāo),在數(shù)據(jù)處理方面采用基于紅外輻射定律模型的擬合曲線法,同時(shí)為了提高測(cè)量精度,采用分段擬合,并提出探測(cè)器溫度漂移模型實(shí)現(xiàn)消除環(huán)境輻射、紅外探測(cè)器靶面溫度因素對(duì)測(cè)溫精度與穩(wěn)定性的影響。通過(guò)將探測(cè)器放到恒溫箱,調(diào)整探測(cè)器環(huán)境溫度,獲得不同鏡筒溫度、探測(cè)器靶面溫度下的黑體圖像,建立每一個(gè)像元鏡筒溫度?靶面溫度?灰度變化曲線。隨后改變黑體溫度,進(jìn)行近距離拓展源標(biāo)定,并根據(jù)物理模型提出一種基于探測(cè)器溫度漂移模型的無(wú)擋片紅外測(cè)溫方法。??