一種磁場干擾試驗機構

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202020949270.8 申請日 -
公開（公告）號 CN212568984U 公開（公告）日 2021-02-19
申請公布號 CN212568984U 申請公布日 2021-02-19
分類號 G01R31/00(2006.01)I; 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張帥彪;卜慧君 申請（專利權）人 南京朗禾智能控制研究院有限公司
代理機構 南京蘇科專利代理有限責任公司 代理人 趙荔
地址 210000江蘇省南京市六合區(qū)雄州街道王橋路59號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供了電子器件測試技術領域內的一種磁場干擾試驗機構，包括測試平臺，測試平臺上連接有可在左右方向上移動的調節(jié)座，調節(jié)座的下側固定有滑動部，測試平臺上開有滑動槽，滑動部可剛好沿著滑動槽左右滑動，測試平臺上側還連接有測試箱，測試箱內連接有至少一個測試環(huán)，測試箱上開有測試口，調節(jié)座設置在測試口的前方，測試環(huán)的外周設有可產生磁場的線圈，調節(jié)座上連接有可轉動的連接臺，連接臺上可轉動地連接有轉動臂，轉動臂的上方連接有可轉動的夾緊板，夾緊板連接有用于夾緊待測件的夾緊臂一和夾緊臂二，經轉動臂可將待測件伸入對應的測試環(huán)內；本實用新型可以測試磁場對待測件工作的影響，測試方便。??