分布式集成電路測(cè)試系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202120372763.4 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN215005735U 公開（公告）日 2021-12-03
申請(qǐng)公布號(hào) CN215005735U 申請(qǐng)公布日 2021-12-03
分類號(hào) G01R31/28（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 葉劍文 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 杭州友旺電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海思捷知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王宏婧
地址 310012浙江省杭州市西湖區(qū)黃姑山路4號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提供了一種分布式集成電路測(cè)試系統(tǒng)，包括至少兩塊測(cè)試板卡，每塊所述測(cè)試板卡上集成有一控制模塊、一測(cè)試單元模塊和一電源模塊，每個(gè)所述控制模塊通過以太網(wǎng)與一上位機(jī)連接，每塊所述測(cè)試板卡上的所述控制模塊與對(duì)應(yīng)的所述電源模塊和所述測(cè)試單元模塊連接，所述測(cè)試單元模塊與待測(cè)集成電路連接，各個(gè)所述測(cè)試板卡上的所述電源模塊之間相互獨(dú)立。本實(shí)用新型的技術(shù)方案能夠在對(duì)集成電路測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行擴(kuò)展的同時(shí)，還能節(jié)約測(cè)試成本和測(cè)試空間以及能夠避免產(chǎn)生共地干擾的問題。