分布式集成電路測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202120372763.4 申請日 -
公開（公告）號 CN215005735U 公開（公告）日 2021-12-03
申請公布號 CN215005735U 申請公布日 2021-12-03
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 葉劍文 申請（專利權(quán)）人 杭州友旺電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海思捷知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王宏婧
地址 310012浙江省杭州市西湖區(qū)黃姑山路4號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提供了一種分布式集成電路測試系統(tǒng)，包括至少兩塊測試板卡，每塊所述測試板卡上集成有一控制模塊、一測試單元模塊和一電源模塊，每個所述控制模塊通過以太網(wǎng)與一上位機(jī)連接，每塊所述測試板卡上的所述控制模塊與對應(yīng)的所述電源模塊和所述測試單元模塊連接，所述測試單元模塊與待測集成電路連接，各個所述測試板卡上的所述電源模塊之間相互獨(dú)立。本實(shí)用新型的技術(shù)方案能夠在對集成電路測試系統(tǒng)進(jìn)行擴(kuò)展的同時，還能節(jié)約測試成本和測試空間以及能夠避免產(chǎn)生共地干擾的問題。