一種片上系統(tǒng)芯片的測試方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911401980.5 申請日 -
公開（公告）號 CN111025134A 公開（公告）日 2020-04-17
申請公布號 CN111025134A 申請公布日 2020-04-17
分類號 G01R31/3185;G01R31/3183 分類 測量；測試;
發(fā)明人 蔣常斌 申請（專利權(quán)）人 北京自動測試技術(shù)研究所有限公司
代理機構(gòu) 北京汲智翼成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 北京自動測試技術(shù)研究所
地址 100088 北京市海淀區(qū)北三環(huán)中路31號泰思特大廈A座9層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種片上系統(tǒng)芯片的測試方法及系統(tǒng)。該方法對基于高速串行鏈路連接的第一適配器和第二適配器，進行診斷和校準；診斷校準完成后，通過第一適配器逐個獲得每個待測片上系統(tǒng)芯片的測試激勵矢量和期望矢量，并基于高速串行鏈路將測試激勵矢量壓縮打包后傳輸?shù)降诙m配器，得到某個待測片上系統(tǒng)芯片的測試激勵矢量；對得到的測試激勵矢量進行校驗，如果校驗通過，則將測試激勵矢量相應(yīng)地傳輸至對應(yīng)的待測片上系統(tǒng)芯片的輸入引腳，以完成測試。該方法用高速串行傳輸媒介代替?zhèn)鹘y(tǒng)的測試電纜，并且對測試激勵矢量串行化后壓縮并加入校驗機制，使得測試激勵矢量到待測片上系統(tǒng)芯片的輸入引腳映射不僅是完全可編程的，而且還保證測試結(jié)果的準確性。