一種片上系統(tǒng)芯片的測(cè)試方法及系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201911401980.5 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN111025134A 公開(kāi)（公告）日 2020-04-17
申請(qǐng)公布號(hào) CN111025134A 申請(qǐng)公布日 2020-04-17
分類號(hào) G01R31/3185;G01R31/3183 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 蔣常斌 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京汲智翼成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所
地址 100088 北京市海淀區(qū)北三環(huán)中路31號(hào)泰思特大廈A座9層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種片上系統(tǒng)芯片的測(cè)試方法及系統(tǒng)。該方法對(duì)基于高速串行鏈路連接的第一適配器和第二適配器，進(jìn)行診斷和校準(zhǔn)；診斷校準(zhǔn)完成后，通過(guò)第一適配器逐個(gè)獲得每個(gè)待測(cè)片上系統(tǒng)芯片的測(cè)試激勵(lì)矢量和期望矢量，并基于高速串行鏈路將測(cè)試激勵(lì)矢量壓縮打包后傳輸?shù)降诙m配器，得到某個(gè)待測(cè)片上系統(tǒng)芯片的測(cè)試激勵(lì)矢量；對(duì)得到的測(cè)試激勵(lì)矢量進(jìn)行校驗(yàn)，如果校驗(yàn)通過(guò)，則將測(cè)試激勵(lì)矢量相應(yīng)地傳輸至對(duì)應(yīng)的待測(cè)片上系統(tǒng)芯片的輸入引腳，以完成測(cè)試。該方法用高速串行傳輸媒介代替?zhèn)鹘y(tǒng)的測(cè)試電纜，并且對(duì)測(cè)試激勵(lì)矢量串行化后壓縮并加入校驗(yàn)機(jī)制，使得測(cè)試激勵(lì)矢量到待測(cè)片上系統(tǒng)芯片的輸入引腳映射不僅是完全可編程的，而且還保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。