一種循環(huán)冗余校驗方法、設(shè)備及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201711472801.8 申請日 -
公開（公告）號 CN108233944A 公開（公告）日 2018-06-29
申請公布號 CN108233944A 申請公布日 2018-06-29
分類號 H03M13/09 分類 基本電子電路;
發(fā)明人 高劍;馮建科;郭士瑞;袁科學(xué);蔣常斌;李杰;閻偉 申請（專利權(quán)）人 北京自動測試技術(shù)研究所有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京汲智翼成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 北京自動測試技術(shù)研究所
地址 100088 北京市海淀區(qū)北三環(huán)中路31號泰思特大廈A座9層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種循環(huán)冗余校驗方法、設(shè)備及存儲介質(zhì)。其中，該循環(huán)冗余校驗方法包括如下步驟：將第一校驗碼CSAi?1和第二校驗碼CSBi?1作為數(shù)據(jù)序列Pi的初值與數(shù)據(jù)序列構(gòu)成輸入數(shù)據(jù)序列；分別進(jìn)行CRC第一校驗?zāi)Ｊ胶虲RC第二校驗?zāi)Ｊ降男ｒ?，得到第一校驗碼CSAi和第二校驗碼CSBi，將第一校驗碼CSAi與上一個數(shù)據(jù)序列Pi?1的第二校驗碼CSBi?1連接到一起構(gòu)成新數(shù)據(jù)序列；對構(gòu)成的新數(shù)據(jù)序列再進(jìn)行CRC第一校驗?zāi)Ｊ降男ｒ?，得出?shù)據(jù)序列Pi的校驗碼；計數(shù)器的數(shù)值逐一增加，重復(fù)上述步驟，直至所有傳輸?shù)臄?shù)據(jù)序列全部校驗完成，得到所有數(shù)據(jù)序列的校驗碼。該方法避免了傳統(tǒng)CRC32異或運(yùn)算的信息丟失，在不增加資源消耗的基礎(chǔ)上，提高了校驗的準(zhǔn)確性。