一種集成電路測試系統(tǒng)的運放測試模塊

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201922309507.6 申請日 -
公開（公告）號 CN212031656U 公開（公告）日 2020-11-27
申請公布號 CN212031656U 申請公布日 2020-11-27
分類號 G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李杰 申請（專利權）人 北京自動測試技術研究所有限公司
代理機構 北京汲智翼成知識產(chǎn)權代理事務所（普通合伙） 代理人 北京自動測試技術研究所
地址 100088北京市海淀區(qū)北三環(huán)中路31號泰思特大廈A座9層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種集成電路測試系統(tǒng)的運放測試模塊。該測試模塊包括芯片轉接卡座、輔助運放測試回路、光耦矩陣和測試系統(tǒng)接口，光耦矩陣一方面連接芯片轉接卡座和測試系統(tǒng)接口，另一方面連接輔助運放測試回路。該測試模塊與集成電路測試系統(tǒng)相互配合，實現(xiàn)自動控制光耦矩陣將待測運放芯片接入到輔助運放測試回路中，并按照待測運放芯片的測試規(guī)范，控制輔助運放測試回路實現(xiàn)對待測運放芯片的測試任務。此外，本運放測試模塊配置靈活，操作方便。??