一種集成電路測(cè)試系統(tǒng)的運(yùn)放測(cè)試模塊
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201922309507.6 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN212031656U | 公開（公告）日 | 2020-11-27 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN212031656U | 申請(qǐng)公布日 | 2020-11-27 |
| 分類號(hào) | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 李杰 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京汲智翼成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所 |
| 地址 | 100088北京市海淀區(qū)北三環(huán)中路31號(hào)泰思特大廈A座9層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型公開了一種集成電路測(cè)試系統(tǒng)的運(yùn)放測(cè)試模塊。該測(cè)試模塊包括芯片轉(zhuǎn)接卡座、輔助運(yùn)放測(cè)試回路、光耦矩陣和測(cè)試系統(tǒng)接口，光耦矩陣一方面連接芯片轉(zhuǎn)接卡座和測(cè)試系統(tǒng)接口，另一方面連接輔助運(yùn)放測(cè)試回路。該測(cè)試模塊與集成電路測(cè)試系統(tǒng)相互配合，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)控制光耦矩陣將待測(cè)運(yùn)放芯片接入到輔助運(yùn)放測(cè)試回路中，并按照待測(cè)運(yùn)放芯片的測(cè)試規(guī)范，控制輔助運(yùn)放測(cè)試回路實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)運(yùn)放芯片的測(cè)試任務(wù)。此外，本運(yùn)放測(cè)試模塊配置靈活，操作方便。?? |
