一種用于頻率信號發(fā)生芯片的修調(diào)裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201511019883.1 申請日 -
公開（公告）號 CN105790736B 公開（公告）日 2018-11-02
申請公布號 CN105790736B 申請公布日 2018-11-02
分類號 H03K5/13;H03K5/24;H03L7/18;G01R23/02 分類 基本電子電路;
發(fā)明人 高劍;馮建科;郭士瑞;張東;李杰;蔣常斌;于明 申請（專利權(quán)）人 北京自動測試技術(shù)研究所有限公司
代理機構(gòu) 北京汲智翼成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 北京自動測試技術(shù)研究所
地址 100088 北京市海淀區(qū)北三環(huán)中路31號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種用于頻率信號發(fā)生芯片的修調(diào)裝置，包括高速計數(shù)電路、2選1電路、修調(diào)譯碼電路和修調(diào)控制電路；高速計數(shù)電路一方面接收來自集成電路自動測試設(shè)備的寄存器輸入信號，另一方面接收來自待測試的頻率信號發(fā)生芯片的頻率輸出信號，高速計數(shù)電路輸出的計數(shù)值傳遞給2選1電路；2選1電路的一端連接集成電路自動測試設(shè)備，另一端連接修調(diào)譯碼電路；修調(diào)譯碼電路連接修調(diào)控制電路，修調(diào)控制電路通過修調(diào)控制通道連接待測試的頻率信號發(fā)生芯片的修調(diào)管腳。利用本發(fā)明，可以實現(xiàn)實時頻率測試和修調(diào)，可多路并行測試，滿足高速低成本的量產(chǎn)測試要求。