一種主動式測試向量匹配方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610757297.5 申請日 -
公開（公告）號 CN106405373B 公開（公告）日 2019-06-21
申請公布號 CN106405373B 申請公布日 2019-06-21
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 于明 申請（專利權(quán)）人 北京自動測試技術(shù)研究所有限公司
代理機構(gòu) 北京汲智翼成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 北京自動測試技術(shù)研究所
地址 100088 北京市海淀區(qū)北三環(huán)中路31號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種主動式測試向量匹配方法，包括如下步驟：S1，設(shè)計DSP的測試程序，通過程序配置器將DSP的測試程序固化到芯片中；S2，自動測試設(shè)備通過異步串行通信方式與DSP連接，向DSP發(fā)送匹配控制字；根據(jù)匹配控制字，使芯片到達唯一對應(yīng)的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)；S3，自動測試設(shè)備運行匹配控制字對應(yīng)的測試向量，完成所述匹配控制字對應(yīng)的主動式匹配測試；S4，重復(fù)步驟S2～S3，直至所有匹配控制字對應(yīng)的測試向量測試完成，通過測試向量運行結(jié)果與匹配控制字對應(yīng)的芯片到達唯一對應(yīng)的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)進行對比得到DSP的測試結(jié)果。提高了測試效率，減少了測試時間和測試成本。