檢測非制冷紅外機(jī)芯圖像像素缺陷點(diǎn)的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811084548.3 申請日 -
公開（公告）號 CN109360189B 公開（公告）日 2021-08-10
申請公布號 CN109360189B 申請公布日 2021-08-10
分類號 G06T7/00（2017.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 楊有讓;崔保榮;王文建;張成;張曼;馮潤韜;李虹明;王婭楠;王正強(qiáng) 申請（專利權(quán)）人 昆明北方紅外技術(shù)股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 昆明祥和知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 施建輝
地址 650217云南省昆明市官渡區(qū)經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)紅外路5號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明一種檢測非制冷紅外機(jī)芯圖像像素缺陷點(diǎn)的方法，包括：通過圖像采集卡采集N幀機(jī)芯圖像，讀取采集的N幀機(jī)芯圖像，對N幀機(jī)芯圖像的灰度值進(jìn)行分析以獲得每一幀機(jī)芯圖像的灰度信息；對N幀機(jī)芯圖像對應(yīng)像素灰度值取平均計(jì)算以得到平均圖像；計(jì)算平均圖像中像素坐標(biāo)（x，y）的對比區(qū)中值差MedDif[x][y]和機(jī)芯當(dāng)前狀態(tài)的判斷閾值BP，若MedDif[x][y]＞BP則該像素被判定為亮缺陷點(diǎn)，若MedDif[x][y]＜?BP則該像素被判定為暗缺陷點(diǎn)，否則該像素被判定為不是像素缺陷點(diǎn)。本發(fā)明能客觀、精準(zhǔn)、快速地識別出圖像上的缺陷點(diǎn)，能精確地判斷每個(gè)缺陷點(diǎn)所占像素大小和缺陷點(diǎn)所在的位置坐標(biāo)。