壓力傳感器的硅芯片結(jié)構(gòu)總成
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201320788479.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN203616042U | 公開(公告)日 | 2014-05-28 |
申請公布號 | CN203616042U | 申請公布日 | 2014-05-28 |
分類號 | G01L9/06(2006.01)I;G01L19/00(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 沈紹群;羅小勇 | 申請(專利權(quán))人 | 上海旦宇傳感器科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 廣州嘉權(quán)專利商標事務所有限公司 | 代理人 | 馮劍明 |
地址 | 529100 廣東省江門市新會區(qū)會城西門路圭峰高科技園 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型公開了壓力傳感器的硅芯片結(jié)構(gòu)總成,包括硅芯片,所述硅芯片上設置有硅彈性膜區(qū),在該硅彈性膜區(qū)上設置有四個壓敏電阻構(gòu)成惠斯頓電橋,所述硅芯片上連接有金屬基座,所述金屬基座上設置有容置外部被測介質(zhì)的通道,硅芯片上對應該通道位置設置有背腔區(qū),背腔區(qū)與所述硅彈性膜區(qū)對應,所述硅彈性膜區(qū)為由梁區(qū)和膜區(qū)構(gòu)成的梁膜區(qū),所述四個壓敏電阻設置在所述梁區(qū)上,梁區(qū)厚度為膜區(qū)厚度的二倍以上,使得被測介質(zhì)作用于膜區(qū)的壓力會集中到梁區(qū)上,大大的提高了硅彈性膜區(qū)的靈敏度,降低了檢測誤差,并且本實用新型結(jié)構(gòu)簡單合理緊湊、實施方便、成本低,能夠很好的適應行業(yè)發(fā)展的需求。 |
