電容校準(zhǔn)方法和電子設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110655141.7 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113437972A 公開(kāi)（公告）日 2021-09-24
申請(qǐng)公布號(hào) CN113437972A 申請(qǐng)公布日 2021-09-24
分類號(hào) H03M1/10（2006.01）I 分類 基本電子電路;
發(fā)明人 王逸飛;鄔蓉 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海聯(lián)影微電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京華進(jìn)京聯(lián)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 吳迪
地址 201899上海市嘉定區(qū)皇慶路333號(hào)1幢8層B區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)涉及一種電容校準(zhǔn)方法和電子設(shè)備。所述兩級(jí)模數(shù)轉(zhuǎn)換器包括第一級(jí)模數(shù)轉(zhuǎn)換器和第二級(jí)模數(shù)轉(zhuǎn)換器，所述第一級(jí)模數(shù)轉(zhuǎn)換器包括電容陣列，所述電容陣列包括至少兩級(jí)電容，其中，將所述電容陣列中除第一級(jí)電容之外的任意一個(gè)電容作為待量化的目標(biāo)電容；所述方法包括：控制所述目標(biāo)電容和所述目標(biāo)電容前一級(jí)的每個(gè)電容進(jìn)行極板連接轉(zhuǎn)換，得到所述目標(biāo)電容產(chǎn)生的失配電壓；將所述目標(biāo)電容產(chǎn)生的失配電壓輸入所述第二級(jí)模數(shù)轉(zhuǎn)換器，得到所述目標(biāo)電容的失配量化值；根據(jù)所述失配量化值和預(yù)先建立的校準(zhǔn)關(guān)系對(duì)所述目標(biāo)電容進(jìn)行校準(zhǔn)處理，得到所述目標(biāo)電容的實(shí)際電容值。采用本方法能夠避免電容失配問(wèn)題影響兩級(jí)模數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸出性能。