一種UBM跨越式晶圓級封裝結(jié)構(gòu)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202120662281.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN214588835U | 公開(公告)日 | 2021-11-02 |
申請公布號 | CN214588835U | 申請公布日 | 2021-11-02 |
分類號 | H01L23/488(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 張杰 | 申請(專利權(quán))人 | 江蘇芯德半導(dǎo)體科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 南京華恒專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 宋方園 |
地址 | 210032江蘇省南京市浦口區(qū)浦口經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)雙峰路69號A-11 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種UBM跨越式晶圓級封裝結(jié)構(gòu),包括芯片基層,所述芯片基層包含正表面和背表面,在正表面上設(shè)有第一壓區(qū)和第二壓區(qū),在第一壓區(qū)和第二壓區(qū)之間設(shè)有第三壓區(qū)單元,第三壓區(qū)單元包含至少一個(gè)壓區(qū);凸塊下金屬化層,所述凸塊下金屬化層的接觸端與至少和第一壓區(qū)和第二壓區(qū)連接,所述凸塊下金屬化層上方有焊接凸點(diǎn);鈍化層,所述鈍化層形成與芯片基層的正表面,所述凸塊下金屬化層下方設(shè)有可跨越單個(gè)或多個(gè)再布線層。本發(fā)明的一種UBM跨越式晶圓級封裝結(jié)構(gòu),UBM跨越再布線層(RDL層)或再鈍化層(Repassivation)互聯(lián)導(dǎo)通芯片不同區(qū)域壓區(qū)的晶圓級封裝新型結(jié)構(gòu),簡化了晶圓級封裝的工藝流程。 |
