一種讀出電路及其標定方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010396969.0 申請日 -
公開（公告）號 CN111623890B 公開（公告）日 2021-08-17
申請公布號 CN111623890B 申請公布日 2021-08-17
分類號 G01J5/10;G01J5/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉大河;施薛優(yōu);陳光毅;李克之 申請（專利權）人 北京安酷智芯科技有限公司
代理機構 北京墨丘知識產權代理事務所（普通合伙） 代理人 代峰
地址 100080 北京市海淀區(qū)海淀西大街36號二層北側201室051號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種讀出電路及其標定方法，涉及非制冷紅外焦平面陣列技術領域。讀出電路包括行級電路、像素級電路、偏壓產生電路及列級電路；所述行級電路的輸出端與所述偏壓產生電路的輸入端連接；所述偏壓產生電路至少包括低TCR電阻和盲電阻；根據(jù)所述行級電路的輸出及輸入的恒壓輸出第一偏置電壓和第二偏置電壓至所述列級電路；所述列級電路還與所述像素級電路連接，并根據(jù)所述第一偏置電壓和所述第二偏置電壓得到兩路電流，并對所產生的差分電流進行轉換并作為輸出電壓輸出；通過對所述低TCR電阻和所述盲電阻的調節(jié)，實現(xiàn)所述讀出電路的校正。