一種溫漂校正電路及校正方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010396898.4 申請日 -
公開（公告）號 CN111623891A 公開（公告）日 2021-06-29
申請公布號 CN111623891A 申請公布日 2021-06-29
分類號 G01J5/24;G01J5/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉大河;施薛優(yōu);陳光毅;李克之 申請（專利權(quán)）人 北京安酷智芯科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京墨丘知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 代峰
地址 100080 北京市海淀區(qū)海淀西大街36號二層北側(cè)201室051號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種溫漂校正電路及校正方法，涉及非制冷紅外焦平面陣列技術(shù)領(lǐng)域。所述溫漂校正電路包括DAC電路；所述DAC電路用于接收原始信號，對所述原始信號進(jìn)行失調(diào)校正和失調(diào)溫漂校正，輸出校正信號；其中，所述DAC電路包括第一DAC電路和第二DAC電路，所述第一DAC電路和所述第二DAC電路擁有互相獨立的校正功能。此電路同時實現(xiàn)了對原始信號的失調(diào)校正和失調(diào)溫漂校正，電路簡單且易于實現(xiàn)。