一種基于探測(cè)器的高溫目標(biāo)檢測(cè)方法及裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110286080.1 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN113063503A | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-07-02 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113063503A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-07-02 |
| 分類(lèi)號(hào) | G01J5/10;G01J5/00;G08B21/00 | 分類(lèi) | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 劉大河;施薛優(yōu);陳光毅;李克之 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 北京安酷智芯科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京墨丘知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 代峰;谷軼楠 |
| 地址 | 100080 北京市海淀區(qū)海淀西大街36號(hào)二層北側(cè)201室051號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種基于探測(cè)器的高溫目標(biāo)檢測(cè)方法及裝置，涉及紅外熱成像設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。其中，基于探測(cè)器的高溫目標(biāo)檢測(cè)方法包括：當(dāng)檢測(cè)到探測(cè)器的像素輸出值達(dá)到預(yù)設(shè)飽和值時(shí)，檢測(cè)所述探測(cè)器內(nèi)的像素；若檢測(cè)到像素持續(xù)朝相同方向處于飽和狀態(tài)時(shí)，所述像素為單向飽和像素；若檢測(cè)到單向飽和像素，則對(duì)所述單向飽和像素執(zhí)行偏移校正或者增益調(diào)整操作；若經(jīng)過(guò)所述偏移校正或者增益調(diào)整操作后，所述探測(cè)器的像素輸出值仍持續(xù)處于飽和狀態(tài)，則啟動(dòng)保護(hù)機(jī)制。 |
