一種基于探測器的高溫目標檢測方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110286080.1 申請日 -
公開（公告）號 CN113063503A 公開（公告）日 2021-07-02
申請公布號 CN113063503A 申請公布日 2021-07-02
分類號 G01J5/10;G01J5/00;G08B21/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉大河;施薛優(yōu);陳光毅;李克之 申請（專利權(quán)）人 北京安酷智芯科技有限公司
代理機構(gòu) 北京墨丘知識產(chǎn)權(quán)代理事務所（普通合伙） 代理人 代峰;谷軼楠
地址 100080 北京市海淀區(qū)海淀西大街36號二層北側(cè)201室051號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于探測器的高溫目標檢測方法及裝置，涉及紅外熱成像設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。其中，基于探測器的高溫目標檢測方法包括：當檢測到探測器的像素輸出值達到預設(shè)飽和值時，檢測所述探測器內(nèi)的像素；若檢測到像素持續(xù)朝相同方向處于飽和狀態(tài)時，所述像素為單向飽和像素；若檢測到單向飽和像素，則對所述單向飽和像素執(zhí)行偏移校正或者增益調(diào)整操作；若經(jīng)過所述偏移校正或者增益調(diào)整操作后，所述探測器的像素輸出值仍持續(xù)處于飽和狀態(tài)，則啟動保護機制。