MOS器件PK儀

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201511009592.4 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN105425083B 公開(公告)日 2018-04-20
申請(qǐng)公布號(hào) CN105425083B 申請(qǐng)公布日 2018-04-20
分類號(hào) G01R31/00 分類 測量;測試;
發(fā)明人 王常毅;李勇昌;鄒鋒;彭順剛;朱金華 申請(qǐng)(專利權(quán))人 桂林斯壯微電子有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) 桂林市持衡專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 代理人 桂林斯壯微電子有限責(zé)任公司
地址 541004 廣西壯族自治區(qū)桂林市國家高新區(qū)信息產(chǎn)業(yè)園D-8號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種MOS器件PK儀,主要由殼體,固定在殼體上的電源開關(guān)、2個(gè)液晶顯示屏、2組測試檔位選擇鍵和2組調(diào)節(jié)旋鈕,以及設(shè)置在殼體內(nèi)的2套測試平臺(tái)組成;其中電源開關(guān)同時(shí)與2套測試平臺(tái)的電源端相連;每套測試平臺(tái)的輸入端各連接1組測試檔位選擇鍵和1組調(diào)節(jié)旋鈕的輸出端;每套測試平臺(tái)的輸出端各連接1個(gè)液晶顯示屏。本發(fā)明操作簡單,對(duì)比情況直觀,不需要購買昂貴的檢測/試驗(yàn)設(shè)備,便可輕松了解樣品性能對(duì)比情況;體積小重量輕,便于攜帶,有利于業(yè)務(wù)人員為客戶直觀演示產(chǎn)品性能,有利于研發(fā)人員現(xiàn)場快速了解樣品性能對(duì)比情況。