半導(dǎo)體芯片的共晶焊接方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201511021788.5 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN105489515B | 公開(kāi)(公告)日 | 2019-01-11 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN105489515B | 申請(qǐng)公布日 | 2019-01-11 |
分類(lèi)號(hào) | H01L21/60 | 分類(lèi) | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 王常毅;李勇昌;鄒鋒;蔣振榮;鄒波 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 | 桂林斯壯微電子有限責(zé)任公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 桂林市持衡專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 桂林斯壯微電子有限責(zé)任公司 |
地址 | 541004 廣西壯族自治區(qū)桂林市國(guó)家高新區(qū)信息產(chǎn)業(yè)園D-8號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種半導(dǎo)體芯片的共晶焊接方法,在芯片硅襯底背面蒸鍍金屬層,在一定溫度下,使金屬層與框架表面受壓接觸,在接觸面發(fā)生鍵合形成共晶,實(shí)現(xiàn)共晶焊接,在半導(dǎo)體芯片硅襯底背面自里向外依次蒸鍍W、Al、Ni、Cu,形成四層結(jié)構(gòu)的金屬層,其中W層厚度為Al層厚度為Ni層的厚度為Cu層的厚度為1.1~1.2μm,Cu層與框架表面的鍍層形成共晶。本發(fā)明不需鍍金或鍍銀,大大節(jié)約了生產(chǎn)成本,且提高了封裝產(chǎn)品熱導(dǎo)率,增長(zhǎng)產(chǎn)品使用壽命。 |
