一種基于機器學(xué)習(xí)的芯片自動分組封裝方法及系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110800574.7 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113594064A | 公開(公告)日 | 2021-11-02 |
申請公布號 | CN113594064A | 申請公布日 | 2021-11-02 |
分類號 | H01L21/67(2006.01)I;G06K9/62(2006.01)I;G06N20/00(2019.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 王民;余辰將;劉洛寧 | 申請(專利權(quán))人 | 智新半導(dǎo)體有限公司 |
代理機構(gòu) | 武漢智權(quán)專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 張凱 |
地址 | 430056湖北省武漢市武漢經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)沌陽大道339號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于機器學(xué)習(xí)的芯片自動分組封裝方法及系統(tǒng),涉及芯片封裝領(lǐng)域,該方法包括獲取晶圓上的芯片的性能參數(shù),并基于性能參數(shù)的項數(shù)建立多維超平面;基于晶圓上芯片的性能參數(shù),將晶圓上的芯片映射至建立的超平面中;基于機器學(xué)習(xí)聚類分析算法,對映射至超平面中的芯片進行分組;根據(jù)分組結(jié)果,選取同一分組中的芯片進行同一模塊或襯板上的芯片封裝。所述芯片的性能參數(shù)包括閾值電壓、飽和壓降和截止電流。所述多維超平面的維數(shù)與芯片的性能參數(shù)項數(shù)相同。本發(fā)明能夠保證同一模塊或襯板上每顆芯片的性能參數(shù)一致,有效保證模塊或襯板使用的穩(wěn)定性。 |
