一種FPGA中LUT6的編程測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111282589.5 申請日 -
公開（公告）號 CN113985262A 公開（公告）日 2022-01-28
申請公布號 CN113985262A 申請公布日 2022-01-28
分類號 G01R31/3177（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉錚;張超 申請（專利權(quán)）人 山東芯慧微電子科技有限公司
代理機構(gòu) 南京行高知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 李曉
地址 250102山東省濟南市歷城區(qū)高新區(qū)港興三路北段濟南藥谷雙創(chuàng)基地3號樓1719
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種FPGA中LUT6的編程測試方法，屬于現(xiàn)場可編程門陣列（中的LUT6的測試技術(shù)領(lǐng)域。該方法執(zhí)行如下步驟：1）LUT6邏輯資源功能設(shè)計；2）LUT6輸入向量設(shè)計；3）確定測試程序變量N；4）通過編程自動生成LUT6測試程序；5）將自動生成的LUT6測試程序通過編程自動移植到LUT6測試工具中；6）進行測試仿真；7）將LUT6測試程序?qū)懭隖PGA中并進行數(shù)據(jù)讀?。?）比對仿真數(shù)據(jù)與FPGA中的讀取數(shù)據(jù)；9）確定測試結(jié)果。本發(fā)明全覆蓋LUT6模塊，提高了測試效率；采用在線編程的方式，解決了傳統(tǒng)的測試多次例化Verilog的問題。