一種凸陣探頭的性能測試方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110764675.3 申請日 -
公開（公告）號 CN113576518A 公開（公告）日 2021-11-02
申請公布號 CN113576518A 申請公布日 2021-11-02
分類號 A61B8/00（2006.01）I 分類 醫(yī)學(xué)或獸醫(yī)學(xué)；衛(wèi)生學(xué);
發(fā)明人 安普巖;吳楠 申請（專利權(quán)）人 逸超科技（北京）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京博雅睿泉專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 吳秀娥
地址 100176北京市大興區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)科創(chuàng)十三街18號院29號樓1層103室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開提供了一種凸陣探頭的性能測試方法及裝置，該方法包括：控制凸陣探頭進(jìn)行第一運(yùn)動，根據(jù)凸陣探頭在第一運(yùn)動過程中第一目標(biāo)陣元所接收的超聲信號的目標(biāo)參數(shù)的參數(shù)值，確定凸陣探頭的初始姿態(tài)；其中，初始姿態(tài)為使得第一目標(biāo)陣元與反射靶之間的距離最近，凸陣探頭的陣元排布方向平行于第一平面的姿態(tài)；控制凸陣探頭以初始姿態(tài)進(jìn)行第二運(yùn)動，根據(jù)凸陣探頭在第二運(yùn)動過程中第二目標(biāo)陣元所接收的超聲信號的目標(biāo)參數(shù)的參數(shù)值，確定凸陣探頭的測試位姿；其中，測試位姿為使得第二目標(biāo)陣元距反射靶的距離一致、且第二目標(biāo)陣元所發(fā)射的超聲信號垂直于其在反射靶中入射位置的切面的位姿；按照測試位姿，對凸陣探頭進(jìn)行性能測試。