一種自動(dòng)測(cè)試驗(yàn)證裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202021726194.0 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN213042666U 公開(kāi)（公告）日 2021-04-23
申請(qǐng)公布號(hào) CN213042666U 申請(qǐng)公布日 2021-04-23
分類(lèi)號(hào) G11C29/56 分類(lèi) 信息存儲(chǔ);
發(fā)明人 袁家龍 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 聚辰半導(dǎo)體股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海元好知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 張妍;章麗娟
地址 201203 上海市浦東新區(qū)張江高科技園區(qū)松濤路647弄12號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種自動(dòng)測(cè)試驗(yàn)證裝置，包括上位機(jī)、MCU模塊、FPGA模塊和測(cè)試模塊；MCU模塊的第一輸入端與上位機(jī)的輸出端連接；FPGA模塊的輸入端與MCU模塊的第一輸出端連接；測(cè)試模塊內(nèi)部放置待測(cè)芯片，且測(cè)試模塊的第一輸入端與FPGA模塊的輸出端連接，第二輸入端與MCU模塊的第二輸出端連接，輸出端與MCU模塊的第二輸入端連接；MCU模塊的第三輸出端與上位機(jī)的輸入端連接。此實(shí)用新型解決了傳統(tǒng)測(cè)試技術(shù)存在測(cè)試效率低，操作困難的問(wèn)題，通過(guò)設(shè)置上位機(jī)自動(dòng)編碼測(cè)試腳本，實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化的高效測(cè)試，保證了測(cè)試的產(chǎn)品質(zhì)量和開(kāi)發(fā)進(jìn)度，方便了試驗(yàn)可操作性。