用于質(zhì)譜檢測的檢測機構(gòu)及線性反射一體化質(zhì)譜儀器
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202021642742.1 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN212570923U | 公開（公告）日 | 2021-02-19 |
| 申請公布號 | CN212570923U | 申請公布日 | 2021-02-19 |
| 分類號 | H01J49/02(2006.01)I; | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 喻佳俊;黃清;謝芹惠;卓澤銘;蘇柏江 | 申請（專利權(quán)）人 | 廣州禾信康源醫(yī)療科技有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 廣州華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 | 代理人 | 王南杰 |
| 地址 | 510700廣東省廣州市黃埔區(qū)開源大道11號A3棟302室、A3棟303室、A3棟304室、A3棟305室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實用新型公開了一種用于質(zhì)譜檢測的檢測機構(gòu)及線性反射一體化質(zhì)譜儀器。該用于質(zhì)譜檢測的檢測機構(gòu)包括第一反射單元、第二反射單元、移動單元以及離子檢測器；離子檢測器設(shè)置在移動單元上，移動單元能夠在預(yù)定范圍內(nèi)往復(fù)運動，移動單元往復(fù)運動的區(qū)域形成長條形的檢測區(qū)，檢測區(qū)包括第一離子檢測工位以及第二離子檢測工位，當離子檢測器位于第一離子檢測工位時能夠直接接收離子激發(fā)單元激發(fā)的離子；第一反射單元與第二反射單元相對設(shè)置，第二反射單元與第二離子檢測工位對應(yīng)，第一反射單元用于接收離子激發(fā)單元激發(fā)的離子并將該離子反射至第二反射單元，第二反射單元用于將接收到的離子反射至第二離子檢測工位。該用于質(zhì)譜檢測的檢測機構(gòu)成本低、分辨率高。?? |
