缺陷檢測方法及裝置、電子裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202011613567.8 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN114691477A | 公開（公告）日 | 2022-07-01 |
| 申請公布號(hào) | CN114691477A | 申請公布日 | 2022-07-01 |
| 分類號(hào) | G06F11/36（2006.01）I | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 蔡?hào)|佐;郭錦斌;林子甄;簡士超 | 申請（專利權(quán)）人 | 鴻海精密工業(yè)股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳市賽恩倍吉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 518109廣東省深圳市龍華新區(qū)觀瀾街道大三社區(qū)富士康觀瀾科技園B區(qū)廠房4棟、6棟、7棟、13棟（Ⅰ段） | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 一種缺陷檢測方法，所述缺陷檢測方法包括：獲取利用正常訓(xùn)練樣本訓(xùn)練自編碼器及自回歸網(wǎng)絡(luò)時(shí)得到的訓(xùn)練權(quán)重；載入所述訓(xùn)練權(quán)重至所述自編碼器及所述自回歸網(wǎng)絡(luò)中以通過載入所述訓(xùn)練權(quán)重的所述自編碼器對測試樣本進(jìn)行編碼得到測試編碼特征；將所述測試編碼特征分割為子測試編碼特征；將所述子測試編碼特征逐一輸入至載入所述訓(xùn)練權(quán)重的所述自回歸網(wǎng)絡(luò)來輸出測試結(jié)果，所述測試結(jié)果包括所述測試樣本存在缺陷及所述測試樣本不存在缺陷中的一種。本案還提供一種缺陷檢測裝置、一種電子裝置及一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，可避免缺陷的確定的誤差，且可準(zhǔn)確的判斷細(xì)小的缺陷。 |
