鈦白粉遮蓋力的測定方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201110354783.X 申請日 -
公開（公告）號 CN102507505B 公開（公告）日 2014-03-05
申請公布號 CN102507505B 申請公布日 2014-03-05
分類號 G01N21/55(2014.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 杜長山;吳桂蘭;郭靖瑜;梁秀梅;劉燕珍 申請（專利權(quán)）人 攀枝花鼎星鈦業(yè)有限公司
代理機構(gòu) 成都虹橋?qū)＠聞?wù)所（普通合伙） 代理人 武森濤
地址 617009 四川省攀枝花市銀江鎮(zhèn)高梁坪工業(yè)園區(qū)攀枝花鼎星鈦業(yè)有限公司
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種鈦白粉遮蓋力的測定方法，屬于鈦白粉生產(chǎn)領(lǐng)域。本發(fā)明提供了一種鈦白粉遮蓋力的測定方法，具體步驟為：A.將清漆與鈦白粉試樣攪拌混勻成鈦白粉漆漿；B.分別將鈦白粉漆漿涂刷在白板和黑板上形成涂膜，將涂膜室溫下自然風干；C.分別測定涂膜后的白板和黑板上的反射率，以黑板上的反射率除以白板上的反射率求得對比率，以此表征鈦白粉的遮蓋力。利用本發(fā)明方法測定鈦白粉樣品的遮蓋力，其結(jié)果精確度較高，且操作簡便易行，分析過程快捷有效。