一種日照分析微區(qū)劃分方法、裝置及其設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910384823.1 申請日 -
公開（公告）號 CN110109196B 公開（公告）日 2021-07-30
申請公布號 CN110109196B 申請公布日 2021-07-30
分類號 G01W1/12（2006.01）I;G06F30/13（2020.01）I;G06F111/04（2020.01）N 分類 測量；測試;
發(fā)明人 丁偉;劉從豐 申請（專利權(quán)）人 洛陽眾智軟件科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京細(xì)軟智谷知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 代理人 韓國強(qiáng)
地址 471000河南省洛陽市洛陽高新開發(fā)區(qū)豐華路1號連飛大廈3幢13、14、15層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種日照分析微區(qū)劃分方法、裝置及其設(shè)備，該方法包括：確定進(jìn)行日照分析的預(yù)設(shè)日照時間段的時間切片向量組；計算時間切片向量組對應(yīng)的待日照分析建筑的建筑陰影范圍；根據(jù)建筑陰影范圍構(gòu)建建筑陰影線組鏈表；基于建筑陰影線組鏈表構(gòu)造日照分析微區(qū)；根據(jù)日照分析微區(qū)進(jìn)行日照分析。采用上述方法或裝置或設(shè)備能夠根據(jù)特定的日照約束條件，準(zhǔn)確計算出建筑模型在指定時間區(qū)間段的日光照射范圍，提高日照分析準(zhǔn)確度。