一種基于設(shè)備磁環(huán)境變化的磁干擾檢測方法及裝置
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201810284562.1 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN108897053B | 公開（公告）日 | 2021-03-30 |
| 申請公布號(hào) | CN108897053B | 申請公布日 | 2021-03-30 |
| 分類號(hào) | G01V3/40(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 李仁德;林文華 | 申請（專利權(quán)）人 | 廣州吉?dú)W電子科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 廣州德科知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 陳曉妍;林玉旋 |
| 地址 | 510663廣東省廣州市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)科學(xué)城彩頻路7號(hào)702、704 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于設(shè)備磁環(huán)境變化的磁干擾檢測方法及裝置，該方法包括：對設(shè)備進(jìn)行初始校正，以獲得設(shè)備的初始磁校正量，以及檢測設(shè)備的第一合成磁矢量，根據(jù)第一合成磁矢量和所述初始磁校正量，獲得設(shè)備的地磁參考矢量；在保持設(shè)備的位置和姿態(tài)不變的狀態(tài)下，改變設(shè)備所處的磁場環(huán)境，以及檢測所述設(shè)備的第二合成磁矢量，以及根據(jù)第二合成磁矢量和所述地磁參考矢量，獲得設(shè)備的磁校正參考量；基于該磁校正參考量測量所述設(shè)備的實(shí)時(shí)地磁矢量。實(shí)施本發(fā)明實(shí)施例，能夠在設(shè)備磁場環(huán)境發(fā)生變化狀態(tài)下快速獲取磁校正參考量，以排除對設(shè)備地磁的磁干擾，尤其適合野外場合使用或經(jīng)常更換部件的設(shè)備使用，提高用戶使用體驗(yàn)和提高使用粘稠度。?? |
