飛針測(cè)試方法、飛針測(cè)試裝置、飛針測(cè)試設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201811204343.4 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN111060800B 公開（公告）日 2022-03-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN111060800B 申請(qǐng)公布日 2022-03-15
分類號(hào) G01R31/28（2006.01）I;G01R1/073（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 歐陽云軒;王星;翟學(xué)濤;楊朝輝;高云峰 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市大族數(shù)控科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市世聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 汪琳琳
地址 518000 廣東省深圳市寶安區(qū)沙井街道新沙路安托山高科技工業(yè)園3#廠房五層、14#廠房一二層、17#廠房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)屬于PCB測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，涉及飛針測(cè)試方法、飛針測(cè)試裝置、飛針測(cè)試設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。該飛針測(cè)試方法包括：獲取第一飛針測(cè)試文件的測(cè)試信息；根據(jù)所述第一飛針測(cè)試文件的測(cè)試信息顯示PCB的零件面圖像和焊錫面圖像；獲取第二飛針測(cè)試文件的測(cè)試信息；根據(jù)所述第二飛針測(cè)試文件的測(cè)試信息顯示PCB的上模面圖像和下模面圖像；所述上模面圖像對(duì)應(yīng)于所述零件面圖像，所述下模面圖像對(duì)應(yīng)于所述焊錫面圖像；在所述焊錫面圖像與所述下模面圖像的方向不一致時(shí)，調(diào)整所述焊錫面圖像或所述下模面圖像，使得所述焊錫面圖像與所述下模面圖像的方向一致。本申請(qǐng)能夠靈活使用各種格式的測(cè)試文件。