不完善粒檢測(cè)儀

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202030592621.X 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN306439965S 公開(kāi)(公告)日 2021-04-06
申請(qǐng)公布號(hào) CN306439965S 申請(qǐng)公布日 2021-04-06
分類(lèi)號(hào) 10-05 (12) 分類(lèi) -
發(fā)明人 李曉亮;趙金輝;董德良;石恒;賀波;李兵;趙國(guó)慶;楊玉雪 申請(qǐng)(專利權(quán))人 中儲(chǔ)糧成都儲(chǔ)藏研究院有限公司
代理機(jī)構(gòu) 成都市集智匯華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 李華;溫黎娟
地址 610091四川省成都市青羊區(qū)廣富路239號(hào)32幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 1.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的名稱:不完善粒檢測(cè)儀。2.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的用途:用于糧食籽粒中的不完善粒的檢測(cè)。3.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)要點(diǎn):在于形狀。4.最能表明設(shè)計(jì)要點(diǎn)的圖片或照片:立體圖。