檢測電路和集成電路

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911071688.1 申請日 -
公開（公告）號 CN112782484A 公開（公告）日 2021-05-11
申請公布號 CN112782484A 申請公布日 2021-05-11
分類號 G01R27/26;G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 迪克·布克;莫瑞恩·范東恩 申請（專利權(quán)）人 大唐恩智浦半導(dǎo)體有限公司
代理機構(gòu) 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 代理人 駱希聰
地址 226400 江蘇省南通市如東縣縣城黃河路南側(cè)井岡山路西側(cè)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種檢測電路和集成電路，用于檢測經(jīng)過濾的第二電源端上的第一電容的漂移或開路，該第二電源端適于經(jīng)第一電阻從未過濾的第一電源端獲取電源電壓，且適于經(jīng)該第一電容耦接到參考電位端以過濾所述電源電壓。該檢測電路包括串聯(lián)的第二電阻和第二電容，耦接在第一電源端和參考電位端之間，第二電阻和第二電容與第一電阻和第一電容具有相同的時間常數(shù)；仿電源端，連接在第二電阻和第二電容之間；以及比較器，耦接第二電源端和仿電源端，適于檢測第二電源端的經(jīng)過濾電源電壓和仿電源端的仿電源電壓的電壓差，該電壓差指示第一電容的漂移程度或開路。本發(fā)明可以對集成電路外接電容的漂移程度或開路進(jìn)行檢測，具有易于集成和低成本的優(yōu)點。