一種光學(xué)材料透過率的測試系統(tǒng)及測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201310130954.X 申請日 -
公開（公告）號 CN104111238A 公開（公告）日 2014-10-22
申請公布號 CN104111238A 申請公布日 2014-10-22
分類號 G01N21/59(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 雷牧云 申請（專利權(quán)）人 爍光特晶科技有限公司
代理機構(gòu) 北京銀龍知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 爍光特晶科技有限公司
地址 100018 北京市朝陽區(qū)東壩紅松園1號院
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種光學(xué)材料透過率的測試系統(tǒng)及測試方法。所述測試系統(tǒng)包括：光源，沿第一方向發(fā)射光線，獲得用于測試的入射光；至少兩個被測樣品，第一被測樣品用于接收入射光，且入射光相對于第一被測樣品表面呈一角度，入射光穿透第一被測樣品之后獲得第一折射光；第二被測樣品用于接收第一折射光，且使第一折射光穿透第二被測樣品之后獲得第二折射光，沿第二方向傳輸，其中第一方向與所述第二方向位于同一直線上，第一被測樣品與第二被測樣品的規(guī)格相同；探測器，用于接收第二折射光，檢測獲得第二折射光的光強I。通過放置兩塊被測樣品，入射光經(jīng)重復(fù)折射，可以測得樣品在有角度入射時的透過率，解決有角度入射時的透過率測試問題。