晶片薄膜電阻防水性能提升的改進制成工藝
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110200209.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112820489A | 公開(公告)日 | 2021-05-18 |
申請公布號 | CN112820489A | 申請公布日 | 2021-05-18 |
分類號 | H01C17/12;H01C17/242;H01C17/00;H01C17/02;H01C17/30;H01C1/02;H01C7/00 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 王建國;趙武彥;韓勝友;徐玉花;吳術愛;孫麗娜 | 申請(專利權)人 | 昆山厚聲電子工業(yè)有限公司 |
代理機構 | 上海申新律師事務所 | 代理人 | 郭春遠 |
地址 | 215300 江蘇省蘇州市昆山經(jīng)濟技術開發(fā)區(qū)龍騰路88號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種晶片薄膜電阻防水性能提升的改進制成工藝,工藝步驟包括:1)在絕緣基板(1)表面濺射鍍膜形成電阻層,電阻層表面設置AL2O3鈍化層作為第一保護層;2)在折條和折??毯劬€之間,完成鐳射修阻工序,通過制程改進優(yōu)化鐳射起刀點位置;3)在鐳射修阻工序后,電阻層表面設置第二保護層。突破現(xiàn)有行業(yè)固有傳統(tǒng),結合創(chuàng)新設置鐳射切線起刀點,在電阻層表面制作二層保護層,達到薄膜電阻的防水要求。以較低的制作成本,實現(xiàn)優(yōu)良的電阻特性指標,新工藝賦予晶片薄膜電阻器以更多的及更廣泛的應用前景。避免環(huán)境污染如水汽、有害物質等侵入造成電阻腐蝕,滿足85℃溫度、85%RH濕度,10%功率的電阻性能試驗要求。 |
