低溫面形攝影測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510599033.7 申請日 -
公開（公告）號 CN105403168B 公開（公告）日 2017-12-12
申請公布號 CN105403168B 申請公布日 2017-12-12
分類號 G01B11/24(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 錢元;婁錚;劉昌儒;范生宏;王海仁;左營喜;楊戟 申請（專利權(quán)）人 北京普達迪泰科技有限公司
代理機構(gòu) 南京鐘山專利代理有限公司 代理人 中國科學院紫金山天文臺;北京普達迪泰科技有限公司
地址 210008 江蘇省南京市鼓樓區(qū)北京西路2號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種低溫面形攝影測量方法，其采用高分辨率工業(yè)相機，結(jié)合低溫電機驅(qū)動的自動測試臺，實現(xiàn)測量設備在低溫環(huán)境實驗艙中的自動化拍攝；利用常溫下三坐標儀測量結(jié)果對靶標厚度進行標定，從而消除了由靶標厚度差異造成的系統(tǒng)測量誤差。本發(fā)明在低溫環(huán)境實驗艙中，實現(xiàn)了2.1微米rms的重復測量精度、測量效果理想，可在常溫至?60℃的溫度范圍內(nèi)測量了多種板材結(jié)構(gòu)的面形的變化規(guī)律。