半導(dǎo)體器件及其制作方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201810531388.6 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN108767009B | 公開(公告)日 | 2021-08-31 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN108767009B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-08-31 |
分類號(hào) | H01L29/778;H01L21/335;H01L29/40 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 吳俊峰;鄧光敏;吳星星 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 蘇州捷芯威半導(dǎo)體有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京超凡志成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 鄧超 |
地址 | 215123 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)金雞湖大道99號(hào)西北區(qū)2幢311-B室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種半導(dǎo)體器件及其制作方法,涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域。通過在構(gòu)成柵源電容的兩個(gè)極板之間引入具有更高介電常數(shù)的第二介質(zhì)層,增大了該半導(dǎo)體器件的柵源電容,解決了該半導(dǎo)體器件的漏源電容和與該半導(dǎo)體器件級(jí)聯(lián)的其它半導(dǎo)體器件的漏源電容相互失配的問題,不需要在半導(dǎo)體器件的源極和漏極之間并聯(lián)外接電容,能夠降低電路的復(fù)雜度和半導(dǎo)體器件的體積,且能夠提高半導(dǎo)體器件的可靠性,通過在構(gòu)成柵源電容的兩個(gè)場(chǎng)板之間引入高介電常數(shù)材料,可以提高器件的耐靜電能力。 |
