一種結(jié)構(gòu)光參考圖采集裝置和方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010147190.5 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN111272070B 公開（公告）日 2021-10-19
申請(qǐng)公布號(hào) CN111272070B 申請(qǐng)公布日 2021-10-19
分類號(hào) G01B11/00（2006.01）I;G01B11/24（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 周飛亞;李驪 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 南京華捷艾米軟件科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王學(xué)強(qiáng)
地址 210012江蘇省南京市雨花臺(tái)區(qū)軟件大道118號(hào)新華匯B3棟8樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種結(jié)構(gòu)光參考圖采集裝置和方法，包括投影模組、接收模組和支架，所述支架上設(shè)有滑槽，投影模組、接收模組均裝配在滑槽上，投影模組和接收模組通過(guò)沿滑槽滑動(dòng)調(diào)節(jié)二者之間的距離。本發(fā)明的投影模組、接收模組可沿滑槽移動(dòng)，采集參考圖時(shí)增大/減小基線距離，測(cè)量深度時(shí)固定基線距離，利用基線距離可調(diào)的結(jié)構(gòu)及方法采集多張參考圖，并以此構(gòu)造具有更大視場(chǎng)角的目標(biāo)參考圖，在保證深度精度的前提下，有效消除結(jié)構(gòu)光相機(jī)中的深度暗角，增大非參考圖距離處的視場(chǎng)角。