爆閃燈性能測試方法及電子設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110093313.6 申請日 -
公開（公告）號 CN112887626A 公開（公告）日 2021-06-01
申請公布號 CN112887626A 申請公布日 2021-06-01
分類號 H04N5/235;H04N17/00 分類 電通信技術(shù);
發(fā)明人 楊云飛;林偉 申請（專利權(quán)）人 北京英泰智科技股份有限公司
代理機構(gòu) 北京市廣友專利事務所有限責任公司 代理人 張仲波
地址 100080 北京市海淀區(qū)海淀南路21號中關(guān)村知識產(chǎn)權(quán)大廈B座7層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明一個或多個實施例公開一種爆閃燈性能測試方法及電子設(shè)備，其中，爆閃燈測試方法包括：控制處于測試環(huán)境中的攝像機對待拍攝目標進行拍攝，得到圖像，其中，在所述攝像機進行拍攝的過程中控制所述攝像機在開始曝光時向處于所述測試環(huán)境中的爆閃燈發(fā)送觸發(fā)信號，以觸發(fā)所述爆閃燈進行補光；確定所述圖像的所有像素行中被感光的像素行的個數(shù)；根據(jù)所述被感光的像素行的個數(shù)確定所述爆閃燈的持續(xù)輸出時間，該測試方法簡化了爆閃燈的測試過程，提高了爆閃燈性能測試的效率。