一種SSD測(cè)試裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202123313997.0 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN216486411U 公開(kāi)(公告)日 2022-05-10
申請(qǐng)公布號(hào) CN216486411U 申請(qǐng)公布日 2022-05-10
分類號(hào) G06F11/22(2006.01)I 分類 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù);
發(fā)明人 付文明;弗蘭克·陳 申請(qǐng)(專利權(quán))人 至譽(yù)科技(武漢)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 武漢智權(quán)專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 代理人 -
地址 430000湖北省武漢市東湖新技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)高新二路特一號(hào)關(guān)南工業(yè)園2號(hào)廠房2-3樓西面
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種SSD測(cè)試裝置,涉及固態(tài)硬盤(pán)技術(shù)領(lǐng)域,SSD測(cè)試裝置包括:測(cè)試計(jì)算機(jī),包括PC主板;擴(kuò)展卡;測(cè)試背板,與PC主板通過(guò)控制線纜連接,測(cè)試背板還與擴(kuò)展卡通過(guò)高速線纜連接;以及至少兩個(gè)測(cè)試轉(zhuǎn)板,插設(shè)在測(cè)試背板上,并通過(guò)高速線纜與所述擴(kuò)展卡連接;被測(cè)固態(tài)硬盤(pán)插接在測(cè)試轉(zhuǎn)板的插座上。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)如下:通過(guò)在測(cè)試背板上設(shè)置至少兩個(gè)測(cè)試轉(zhuǎn)板,可同時(shí)進(jìn)行至少兩個(gè)固態(tài)硬盤(pán)的測(cè)試。當(dāng)需要進(jìn)行大批量測(cè)試時(shí),增加測(cè)試背板上測(cè)試轉(zhuǎn)板的數(shù)量,即可進(jìn)行固態(tài)硬盤(pán)的大批量高效測(cè)試,有效提高固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試工作的效率。