存儲設(shè)備的壞塊管理方法、系統(tǒng)及計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111177305.6 申請日 -
公開（公告）號 CN113986120A 公開（公告）日 2022-01-28
申請公布號 CN113986120A 申請公布日 2022-01-28
分類號 G06F3/06（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 蔣露;弗蘭克·陳;李曉龍;馬梁;張曉霞;高蘭娟 申請（專利權(quán)）人 至譽(yù)科技（武漢）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 武漢智權(quán)專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 韓夢晴
地址 430000湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)高新二路特一號關(guān)南工業(yè)園2號廠房2-3樓西面
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種存儲設(shè)備的壞塊管理方法、系統(tǒng)及計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，涉及固態(tài)存儲設(shè)備領(lǐng)域。方法包括以下步驟：建立存儲設(shè)備的原始壞塊表；將原始壞塊表重新映射，建立多個不同的初始壞塊映射表；計算出每個初始壞塊映射表的壞塊分布離散度指標(biāo)值，選取最小的壞塊分布離散度指標(biāo)值對應(yīng)的初始壞塊映射表作為目標(biāo)壞塊映射表。系統(tǒng)包括：初始單元，建立原始壞塊表；更新單元，建立初始壞塊映射表；以及執(zhí)行單元，計算出每個初始壞塊映射表的壞塊分布離散度指標(biāo)值，選取最小的壞塊分布離散度指標(biāo)值對應(yīng)的初始壞塊映射表作為目標(biāo)壞塊映射表。本發(fā)明解決了存儲設(shè)備中壞塊映射表內(nèi)存空間占用過大的問題。