一種基于制冷中波熱成像轉臺的遠距離目標物測量方法及系統(tǒng)
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202010357818.4 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN111678501A | 公開（公告）日 | 2020-09-18 |
| 申請公布號 | CN111678501A | 申請公布日 | 2020-09-18 |
| 分類號 | G01C11/00(2006.01)I;G01C3/00(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 黎永志;婁健;張焱輝 | 申請（專利權）人 | 北京華成智云軟件股份有限公司 |
| 代理機構 | 北京紀凱知識產(chǎn)權代理有限公司 | 代理人 | 陸惠中;王永偉 |
| 地址 | 100070北京市豐臺區(qū)南四環(huán)西路128號院1號樓5層526 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種基于制冷中波熱成像轉臺的遠距離目標物測量方法，所述方法利用制冷中波熱成像傳感器獲得遠距離目標物的熱成像圖像并進行預處理得到高質量圖像，利用激光測距機進行目標物測距，通過熱成像圖像、轉臺參數(shù)、測距值對目標物的高度、寬度、相對坐標進行計算，實現(xiàn)目標物測量。本發(fā)明可在低能見度條件下，對遠距離目標物實現(xiàn)靈敏度更高，精度更高，誤差更小的測量。?? |
