一種基于深度學(xué)習(xí)與NCA融合的電子元器件識(shí)別方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201911063380.2 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN110991247A | 公開(kāi)(公告)日 | 2020-04-10 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN110991247A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-04-10 |
分類號(hào) | G06K9/00;G06K9/62 | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
發(fā)明人 | 姚征遠(yuǎn);劉海建 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 廈門思泰克智能科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 廈門佰業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 廈門思泰克智能科技股份有限公司 |
地址 | 361000 福建省廈門市火炬高新區(qū)(翔安)產(chǎn)業(yè)區(qū)同龍二路583號(hào)101單元 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種基于深度學(xué)習(xí)與NCA融合的電子元器件識(shí)別方法,該方法包括三個(gè)部分:(1)圖像的預(yù)處理,樣本均衡;(2)用卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對(duì)含有分類標(biāo)簽的圖像進(jìn)行訓(xùn)練;(3)用卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)提取特征并使用NCA降維,再對(duì)降維后的特征進(jìn)行預(yù)測(cè),該方法使用深度學(xué)習(xí)模型完成真正意義上的端到端系統(tǒng)級(jí)電子元器件識(shí)別,針對(duì)每個(gè)類別的重新加權(quán)方案,能夠快速提高精度,并用1*1的卷積核,fire module,減少通道數(shù)量等方式壓縮深度學(xué)習(xí)模型參數(shù)量,同時(shí)使用NCA降維技術(shù)減少參數(shù)量,在加快模型推理時(shí)間的同時(shí),保障工業(yè)級(jí)應(yīng)用水準(zhǔn),實(shí)現(xiàn)快速高效的圖像識(shí)別任務(wù)。 |
