一種三維自動光學(xué)檢測裝置及其控制方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010787429.5 申請日 -
公開（公告）號 CN111751282A 公開（公告）日 2020-10-09
申請公布號 CN111751282A 申請公布日 2020-10-09
分類號 G01N21/01(2006.01)I;G01N21/956(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 姚征遠(yuǎn);林福凌 申請（專利權(quán)）人 廈門思泰克智能科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廈門佰業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 廈門思泰克智能科技股份有限公司
地址 361000福建省廈門市火炬高新區(qū)（翔安）產(chǎn)業(yè)區(qū)同龍二路583號101單元
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種三維自動光學(xué)檢測裝置及其控制方法，其中設(shè)備包括一取像件、第一燈層、第二燈層、第三燈層、底部燈盤和設(shè)置于所述取像件周側(cè)的至少四個投影頭，所述底部燈盤設(shè)置于所述取像件下方，所述第一燈層設(shè)置于所述取像件周側(cè)，所述第三燈層設(shè)置于所述底部燈盤中，所述第二燈層設(shè)置于所述第一燈層與所述第三燈層之間；所述第一燈層、所述第二燈層和所述第三燈層均可投射不同顏色的燈光，所述第一燈層、所述第二燈層和所述第三燈層分別投射不同高度和不同顏色的燈光穿過所述底部燈盤以實現(xiàn)在待測電路板上形成可被采集的多灰度圖片。本發(fā)明一種三維自動光學(xué)檢測裝置應(yīng)用廣泛、可針對不同電子器件缺陷及可同時兼容3D、2D檢測需求。??