一種芯片測試機內提高抓取信號精度的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110345508.5 申請日 -
公開（公告）號 CN113158441A 公開（公告）日 2021-07-23
申請公布號 CN113158441A 申請公布日 2021-07-23
分類號 G06F30/20;G06F119/02 分類 計算；推算；計數;
發(fā)明人 魏津;張經祥;吳艷平 申請（專利權）人 勝達克半導體科技（上海）股份有限公司
代理機構 上海專益專利代理事務所（特殊普通合伙） 代理人 方燕娜;王雯婷
地址 201799 上海市青浦區(qū)清河灣路1130號1幢1層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及芯片測試機技術領域，具體地說是一種芯片測試機內提高抓取信號精度的方法。其特征在于包括如下步驟：S1，取理想變化點；S2，取樣本點，對每個樣本點及理想變化點分別進行檢測掃描，并記錄每檢測掃描結果；S3，多次重復步驟S2；S4，建立統(tǒng)計數據模型；S5，得到真實變化點；S6，重復步驟S2?S5；S7，計算信號的整體偏差時間?t；S8，將整體偏差時間?t補償在信號輸入端。同現有技術相比，取一個時間周期內所有點，并對所有點進行多點、多次掃描獲取若干個真實點的位置，再對若干個真實點取平均以覆蓋一個周期內信號在各個位置變化的情況，充分考慮信號的分布，獲取信號變化的精準位置進行補償，從而提高信號抓取精度。