一種芯片測試機(jī)內(nèi)提高抓取信號(hào)精度的方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110345508.5 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113158441A 公開（公告）日 2021-07-23
申請(qǐng)公布號(hào) CN113158441A 申請(qǐng)公布日 2021-07-23
分類號(hào) G06F30/20;G06F119/02 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 魏津;張經(jīng)祥;吳艷平 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 勝達(dá)克半導(dǎo)體科技（上海）股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海專益專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 方燕娜;王雯婷
地址 201799 上海市青浦區(qū)清河灣路1130號(hào)1幢1層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及芯片測試機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，具體地說是一種芯片測試機(jī)內(nèi)提高抓取信號(hào)精度的方法。其特征在于包括如下步驟：S1，取理想變化點(diǎn)；S2，取樣本點(diǎn)，對(duì)每個(gè)樣本點(diǎn)及理想變化點(diǎn)分別進(jìn)行檢測掃描，并記錄每檢測掃描結(jié)果；S3，多次重復(fù)步驟S2；S4，建立統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)模型；S5，得到真實(shí)變化點(diǎn)；S6，重復(fù)步驟S2?S5；S7，計(jì)算信號(hào)的整體偏差時(shí)間?t；S8，將整體偏差時(shí)間?t補(bǔ)償在信號(hào)輸入端。同現(xiàn)有技術(shù)相比，取一個(gè)時(shí)間周期內(nèi)所有點(diǎn)，并對(duì)所有點(diǎn)進(jìn)行多點(diǎn)、多次掃描獲取若干個(gè)真實(shí)點(diǎn)的位置，再對(duì)若干個(gè)真實(shí)點(diǎn)取平均以覆蓋一個(gè)周期內(nèi)信號(hào)在各個(gè)位置變化的情況，充分考慮信號(hào)的分布，獲取信號(hào)變化的精準(zhǔn)位置進(jìn)行補(bǔ)償，從而提高信號(hào)抓取精度。