一種集成電路測試機(jī)的自診斷電路及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110577647.0 申請日 -
公開（公告）號 CN113311313A 公開（公告）日 2021-08-27
申請公布號 CN113311313A 申請公布日 2021-08-27
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 魏津;張經(jīng)祥;吳艷平 申請（專利權(quán)）人 勝達(dá)克半導(dǎo)體科技（上海）股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海專益專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 方燕娜;王雯婷
地址 201799上海市青浦區(qū)清河灣路1130號1幢1層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及測量電變量技術(shù)領(lǐng)域，具體地說是一種集成電路測試機(jī)的自診斷電路及方法。包括集成電路測試機(jī)，集成電路測試機(jī)內(nèi)設(shè)有數(shù)字通道模塊、精密測量單元模塊、供電模塊、高壓數(shù)字通道模塊、多功能繼電器模塊，其特征在于：所述的集成電路測試機(jī)上設(shè)有若干ODD?EVEN載具板、Utility Diag載具板，ODD?EVEN載具板一端連接數(shù)字通道模塊，ODD?EVEN載具板另一端分別連接精密測量單元模塊、供電模塊、高壓數(shù)字通道模塊，Utility Diag載具板連接多功能繼電器模塊；同現(xiàn)有技術(shù)相比，充分利用了集成電路測試機(jī)本身的資源，無需使用額外的測試設(shè)備，大大節(jié)省了設(shè)備成本。采用互聯(lián)互測方案，對相同的測試項(xiàng)，可以并發(fā)性測試，奇數(shù)和偶數(shù)通道各測一次即可，節(jié)省了時(shí)間成本。