一種低成本測(cè)試模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器線性度的方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110026569.5 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN112865792B 公開(kāi)（公告）日 2021-11-19
申請(qǐng)公布號(hào) CN112865792B 申請(qǐng)公布日 2021-11-19
分類號(hào) H03M1/10（2006.01）I 分類 基本電子電路;
發(fā)明人 魏津;張經(jīng)祥;胡雪原 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 勝達(dá)克半導(dǎo)體科技（上海）股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海專益專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 方燕娜;王雯婷
地址 201799上海市青浦區(qū)清河灣路1130號(hào)1幢1層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器技術(shù)領(lǐng)域，具體地說(shuō)是一種低成本測(cè)試模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器線性度的方法。其特征在于包括如下步驟：S1，設(shè)置高精度參數(shù)測(cè)量單元工作參數(shù)；S2，設(shè)置數(shù)字測(cè)試通道為輸入捕獲模式；S3，執(zhí)行數(shù)字測(cè)試通道樣式程序，被測(cè)模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換觸發(fā)信號(hào)，并被數(shù)字測(cè)試通道捕獲；S4，數(shù)字測(cè)試通道對(duì)抓取的數(shù)據(jù)進(jìn)行成功?出錯(cuò)判斷，如果出錯(cuò)，記錄出錯(cuò)的數(shù)據(jù)報(bào)告；S5，重復(fù)步驟S3?S4，直至高精度參數(shù)測(cè)量單元電壓升高至結(jié)束值；S6，查詢出錯(cuò)報(bào)告，判斷行?不行，獲得所有出錯(cuò)的數(shù)據(jù)報(bào)告進(jìn)行分析。同現(xiàn)有技術(shù)相比，縮減了測(cè)試時(shí)間，精度高，提高測(cè)試效率。