一種多功能光電流測試平臺

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022690273.7 申請日 -
公開（公告）號 CN213580651U 公開（公告）日 2021-06-29
申請公布號 CN213580651U 申請公布日 2021-06-29
分類號 G01N21/27（2006.01）I;G01N21/47（2006.01）I;G01N21/84（2006.01）I;G01R31/00（2006.01）I;G01R19/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 欒嘉蘊;吳陽 申請（專利權(quán)）人 赫智科技（蘇州）有限公司
代理機構(gòu) 北京同輝知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 廖娜
地址 215000江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)若水路388號H402室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種多功能光電流測試平臺，包括光學隔振平臺，所述光學隔振平臺上通過支撐柱設(shè)置有雙層光學平臺，所述雙層光學平臺的上層上設(shè)置有激光模組，所述雙層光學平臺的上層上設(shè)置有激光輸入模組，所述激光輸入模組與激光模組相對間隔設(shè)置，所述激光模組通過外光路連接器引入至激光輸入模組，所述激光輸入模組上設(shè)置有顯微鏡主體，所述顯微鏡主體上設(shè)置有顯微目鏡模組，所述雙層光學平臺的下層上設(shè)置有樣品臺，所述樣品臺的上方設(shè)置有顯微鏡主體，所述雙層光學平臺的下層上設(shè)置有探測模組，用于探測樣品臺的樣品，所述探測模組與樣品臺相對間隔設(shè)置。本實用新型能滿足對光電材料的光電響應(yīng)進行測試的需求。