一種多功能測試平臺

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911336798.6 申請日 -
公開（公告）號 CN110836854A 公開（公告）日 2020-02-25
申請公布號 CN110836854A 申請公布日 2020-02-25
分類號 G01N21/01;G01N21/3586 分類 測量；測試;
發(fā)明人 吳陽;嚴(yán)振中 申請（專利權(quán)）人 赫智科技（蘇州）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京同輝知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 赫智科技（蘇州）有限公司
地址 215000 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)林泉街377號3號樓439室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種多功能測試平臺，包括光學(xué)面包板，光學(xué)面包板上設(shè)置有安裝座支架，安裝座支架的一側(cè)上設(shè)置有帶有旋轉(zhuǎn)電機(jī)的安裝座，安裝座上設(shè)置有鏡架支撐板，鏡架支撐板的一端與旋轉(zhuǎn)電機(jī)相驅(qū)動連接，另一端上設(shè)置有第一鏡架支架和第二鏡架支架，第二鏡架支架上設(shè)置有太赫茲信號探測器，第一鏡架支撐架和第二鏡架支撐架上分別設(shè)置有第三鏡架支架和第四鏡架支架，第四鏡架支架上設(shè)置有太赫茲發(fā)射器，第一鏡架支架、第二鏡架支架、第三鏡架支架和第四鏡架支架位于同一平面設(shè)置，在所述第一鏡架支架和第三鏡架支架之間設(shè)置有樣品支架。本發(fā)明可有三種測試模式，能夠?qū)崿F(xiàn)對樣品從紫外到太赫茲波段的測試，提高了集成度，達(dá)到了降低成本的目的。