一種基于對稱電場的顆粒zeta電位測量方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201710140503.2 申請日 -
公開（公告）號 CN106940301A 公開（公告）日 2017-07-11
申請公布號 CN106940301A 申請公布日 2017-07-11
分類號 G01N21/51;G01N21/27;G01N27/447 分類 測量；測試;
發(fā)明人 邱健;韓鵬;駱開慶;彭力 申請（專利權(quán)）人 清遠華奧光電儀器有限公司
代理機構(gòu) 廣州科粵專利商標代理有限公司 代理人 華南師范大學
地址 510631 廣東省廣州市天河區(qū)石牌華南師范大學
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種基于對稱電場的顆粒zeta電位測量裝置，其包括電泳電壓源、U型透明管的樣品池、光學相干模塊、光電信號處理模塊、數(shù)據(jù)處理器；電泳電壓源的正極設(shè)在U型透明管的左端內(nèi)，電泳電壓源的負極設(shè)在U型透明管的右端內(nèi)；光電信號處理模塊包括光電探測器和自相關(guān)運算模塊，光電探測器和自相關(guān)運算模塊的數(shù)量都為兩個，第一光電探測器的輸出端與第一自相關(guān)運算模塊的輸入端電連接，第二光電探測器的輸出端與第二自相關(guān)運算模塊的輸入端電連接；數(shù)據(jù)處理器的輸入端分別與第一自相關(guān)運算模塊、第二自相關(guān)運算模塊的輸出端電連接；光學相干模塊包括激光光源和光學頻移器。本發(fā)明能夠剔除雜散光與電噪聲引入的頻譜成分，提高Zeta電位測量的準確性與穩(wěn)定性。